CH-8系列高端探針臺 森東寶科技廠家

CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統

臺體規格

· 型號：CH-8/CH-12，滿足不同尺寸樣品測試需求

· 樣品臺尺寸：8英寸/12英寸，兼容多規格樣品

· 水平旋轉：實現360度無死角旋轉，微調精度高達0.1度，并配備角度鎖死裝置，確保測試穩定性

· X-Y移動行程：8英寸8英寸/12英寸12英寸，提供大范圍的移動空間

· X-Y移動精度：10微米/1微米可選，確保**定位

· 樣品固定：采用真空吸附技術，中心吸附孔與多圈吸附環相結合，確保樣品穩定不偏移

· 針座平臺：U型設計，zui多可承載10個探針座，滿足多樣化測試需求

· 平臺升降：快速升降6mm，微調升降25mm，靈活適應不同測試場景

· 背電極測試：樣品臺電學獨立懸空設計，4mm插孔方便接入背電極，實現全面測試

· 外形尺寸與重量：緊湊設計，方便搬運與安裝，適應多種實驗室環境

光學系統

· 顯微鏡類型：單筒顯微鏡、體式顯微鏡、金相顯微鏡等多種類型可選，滿足不同觀察需求

· 放大倍率：16X-200X/20X-4000X，實現微觀到宏觀的全方位觀察

· 移動行程：X-Y軸行程2英寸*2英寸，水平360度旋轉，Z軸行程50.8mm，提供靈活的觀察角度與深度

· 光源：外置LED環形光源與同軸光源可選，確保清晰、均勻的照明效果

· CCD：200萬像素、500萬像素、1200萬像素可選，提供高清的圖像捕捉能力

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· X-Y-Z移動行程：12mm12mm12mm，實現**的三維定位

· 移動精度：10微米至0.5微米可選，滿足不同精度要求

· 吸附方式：磁力吸附與真空吸附可選，靈活適應不同探針與樣品

· 線纜：同軸線與三軸線可選，確保信號傳輸的穩定性與準確性

· 漏電精度：10pA至10fA可選，保障測試數據的精確性

· 固定探針：彈簧固定與管狀固定可選，確保探針穩定不脫落

· 接頭類型：BNC、三軸、香蕉頭、鱷魚夾、接線端子等多種類型可選，方便與外部設備連接

· 針尖直徑與材質：針尖直徑從0.2微米至20微米可選，材質有鎢鋼與鈹銅兩種，滿足多樣化測試需求

可選附件

· 加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱等，提供全方位的測試*設備

· 光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件等，提升測試的**性與穩定性

· 高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置等，滿足特殊測試需求

· 激光系統、探針卡夾具等，提供高級測試功能與便利性

CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統以其卓越的性能、靈活的配置和豐富的可選附件，成為科研與工業生產中不可或缺的測試設備。無論是微電子、半導體還是材料科學等領域，它都能提供穩定、**的測試環境，助力科研人員與工程師取得更卓越的成果。